ОБЪЕМ ДОПОЛНИТЕЛЬНЫХ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИИ

В настоящее время различные предприятия, разрабатывающие н изготав­ливающие РЭА, в целях повышения эксплуатационной надежности проводят, как правило, термотренировку ИС и ячеек с установленными элементами, тер-моциклнроваиие и крайне редко — электротермотренировку. Так, например, на предприятиях, изготавливающих ЭВМ, на входном контроле ИС подвергаются 50 термоциклам. На других предприятиях проводят термостарение ИС в тече--иие 4 сут. и термоциклирование (10 циклов). На ряде предрнятнй делают термоциклироваиие ячеек и блоков в* диапазоне температур —60...+70" С, при­чем выбирают число термоциклов в пределах 5... 100. Однако такие методики отбраковки часто слабо обоснованы.

Выше отмечалось, что термоциклироваиие ИС имеет своей целью выявить несогласование коэффициентов теплового расширения отдельных частей схемы.

В состав отбраковочных испытаний на заводах-изготовителях ЙС вхоДнт пять термоциклов, что вполне достаточно для выявления скрытых дефектов микро­схем. Дальнейшее увеличение числа термоциклов (особенно более 10) может привести к «расшатыванию» конструкции и отказу микросхемы либо, что совсем

недопустимо, превращению надежного изделия в изделие, имеющее скрытые дефекты.

Проведение термостарения нли электротермотренировки ие при максимально допустимой температуре также не может дать эффекта, хотя и ие приводит к — возникновению скрытых дефектов.

Если же термотренировке (или термоциклированию) подвергаются ячейки (блоки) с устаиовлениымн ИС, то проведение таких тренировок при темпера­турах 70... 80° С дает определенный эффект для конструктивных элементов РЭА, а не для ИС.

Анализ имеющегося статического материала показывает, что технологи­ческие испытания должны состоять нз: электротермотреиировкн как фактора, ускоряющего проявление скрытых дефектов, термовыдержки (для некоторых типов схем); проверки статических параметров в диапазоне температур и ди­намических параметров при нормальных условиях как результирующих испы­таний, определяющих годность схем, а также испытаний иа герметичность.

Электротермотренировку необходимо проводить при максимальной темпе­ратуре и предельных электрических режимах, разрешенных в ТУ на конкрет­ную ИС. Необходимая продолжительность электротерморегулировки может быть /рассчитана на базе статистического материала по трем последовательным цик­лам испытаний: первый цикл—собственно электротермотренировка 100% ИС в течение 96 ч, второй цикл проходит во время приемосдаточных испытаний ИС и проводится при полном пнтаннн н предельной температуре в течение "96 ч. третий цикл — это ежеквартальные испытания на безотказность.

На рис. 7.8 графически показаны данные о засоренности партий ИС, полу­ченные по результатам подобных испытаний, из которых следует, что засорен­ность партнн микросхемами со скрытыми дефектами составляет: до начала испытаний 0,3%, после первого цикла (100 ч) — 0,1%, после второго (200 ч)— О,03% и после третьего (300 ч) —0,007%.

Представляет интерес анализ достигнутых значений интенсивности отказов ИС как функции от эмпирической переменной, в которой учитываются такие факторы производства ИС, как продолжительность электротермотренировкн и наличие отбракованных испытаний. На рис. 7.9 приведен график, где по оси абсцисс отложен процент засоренности партий ИС до их монтажа в аппара­туру, а по осн ординат — интенсивность отказов ИС в эксплуатации. Заштри­хованные участки рисунка представляют собой области, в которых имеется корреляционная зависимость между засоренностью партий ИС и интенсивно­стью отказов ИС.

Другие статьи в рубрике "Испытания ИС у потребителей"